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掃描電鏡和能譜:污染檢測和化學(xué)成分分析設(shè)備

 更新時間:2018-02-07 點擊量:2835

機器的小故障有時會導(dǎo)致zui終產(chǎn)品受到污染。金屬顆粒可以從機器的運動部件中分離出來,因為它會在產(chǎn)品上產(chǎn)生摩擦和沉積,有時會降低產(chǎn)品質(zhì)量。這篇博客描述了的一項技術(shù),不僅可以檢查污染的存在,而且還可以識別它的起源。

 

搜尋和消除:產(chǎn)品污染

 

無論是生產(chǎn)食品、電子設(shè)備還是冶金部件,精密機械的引進(jìn)使生產(chǎn)過程變得工業(yè)化和自動化。這些機器有的壽命較短,有時在一定的操作時間后就會產(chǎn)生缺陷,因為它們是由降解材料制成的,因此會產(chǎn)生小顆粒。

 

這些微粒zui終會沉積在產(chǎn)品上,污染食物,可能會產(chǎn)生有毒金屬。它們可能損壞探測器或印刷電路板(PCB),甚至成為氧化過程的起源,這將損害機械部件的使用效率。

 

因此,關(guān)鍵不只是檢測這些粒子,還要追蹤它們的來源,這樣生產(chǎn)線上的操作人員就可以消除這個問題。根據(jù)污染顆粒的性質(zhì)和大小,有幾種調(diào)查方法可供選擇。一些技術(shù)被證明是更有效的,因為他們充分利用了材料的化學(xué)和物理性質(zhì)進(jìn)行分析。

 

電子顯微鏡檢測粒子

 

對小型工業(yè)來說,電子顯微鏡的出現(xiàn),揭示了一種全新的檢測污染的方法,一種比以往使用的方法更有效和準(zhǔn)確的方法。。掃描電鏡目前在使用便捷性,分析速度方面有巨大的改善,臺式掃描電鏡以更低的使用成本獲得了小型企業(yè)用戶的青睞。

 

通過使用掃描電鏡(SEM)的背散射電子探測器(BSD),可以產(chǎn)生樣品和粒子的高倍放大圖, 不同的對比度突顯出不同的成分。

 

 

圖1:香蕉中金屬顆粒污染的掃描電鏡(SEM)圖像(亮區(qū))和帶塵埃的PCB表面(暗區(qū))。不同的成分立即可見,具體的分析可以從可疑的區(qū)域開始。

 

因此,只要簡單地掃描樣品表面,就可以檢測到數(shù)十納米的所有粒子。

 

這個過程有助于識別污染的存在,但這并不是掃描電鏡(SEM)能夠提供的*信息!

 

SEM和EDS:化學(xué)成分分析儀器

 

電子顯微鏡實際上可以配備能量色散X射線譜儀(EDS)。這意味著在幾秒鐘內(nèi),同樣的設(shè)備可以提供和分析樣品的準(zhǔn)確化學(xué)成分。

 

這種分析的結(jié)果可以進(jìn)一步用來確定污染物的來源(例如,在生產(chǎn)線中使用的一種非常特殊的鋼或塑料),并有選擇地修復(fù)導(dǎo)致污染的機器部件。在幾分鐘內(nèi),產(chǎn)品的質(zhì)量可以提高到正常的標(biāo)準(zhǔn),并優(yōu)化生產(chǎn)線。

 

關(guān)于EDS的更多信息

 

如果想在掃描電子顯微鏡中更深入地研究EDS,可以看看以下產(chǎn)品介紹——飛納臺式掃描電鏡能譜一體機Phenom ProX。

 

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