掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣
掃描電鏡的高性能、 高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到世界范圍內(nèi)廣大用戶的信賴(lài)與認(rèn)可。
掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材 料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。
掃描電鏡適用于對(duì)低頻振動(dòng)較為靈敏的儀器，例如建筑物和樓層振動(dòng)、光學(xué)平臺(tái)晃動(dòng)帶來(lái)的低頻振動(dòng)，使用隔震平臺(tái)，可使其降至傳統(tǒng)隔離設(shè)備如氣墊隔振所未能達(dá)到的水平，從而使得對(duì)這些振動(dòng)較為敏感的儀器或設(shè)備 以穩(wěn)定的狀態(tài)運(yùn)行。掃描電鏡優(yōu)異的隔振效果使其應(yīng)用范圍非常廣泛，適用于所有需要進(jìn)行隔振的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，目前為止，已應(yīng)廣泛用在包括納米技術(shù)、生物科學(xué)、半導(dǎo)體、材料研究、航天器零重力模擬以及音頻等領(lǐng)域。
掃描電鏡設(shè)計(jì)新穎*，稱(chēng)為GEMINI鏡筒。在光源與樣品之間，入射電子束不形成交叉點(diǎn)，這與其它掃描電鏡明顯不同。入射電子束無(wú)交叉點(diǎn)光學(xué)設(shè)計(jì)的作用在于：⑴降低入射電子束之間的庫(kù)侖統(tǒng)計(jì)相互作用（減 少電子碰撞，降低色差）；⑵降低外部環(huán)境雜散磁場(chǎng)對(duì)入射電子束的影響。因此，GEMINI鏡筒設(shè)計(jì)確保了入射電子束的亮度及圖像分辨率。特別在低入射能量應(yīng)用時(shí)，上述作用尤為重要。
掃描電鏡標(biāo)配所有的接口，可以兼容市場(chǎng)上所有的電鏡相關(guān)附件，如：能譜儀、波譜儀、EBSD、CL、冷凍臺(tái)、拉伸臺(tái)、等離子清洗裝置等，后續(xù)升級(jí)沒(méi)有任何障礙。
