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發(fā)揮創(chuàng)造力 —— 用掃描電鏡軟件統(tǒng)計(jì)粉體包覆率

 發(fā)布時(shí)間:2020/6/18 點(diǎn)擊量:1689
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    復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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詳細(xì)介紹:

在粉體工業(yè)領(lǐng)域中,粉體表面的包覆改性工藝是提升產(chǎn)品使用性能的重要方法,對(duì)于粉體改性來說,包覆率是關(guān)鍵的參數(shù),但目前主要采用間接考察和檢測的方法獲得,主要方法如下:

 

采用掃描電鏡結(jié)合能譜的方式。包覆與否的顆粒表面元素種類及含量是不一樣的,因此可以通過該方式觀察樣品包覆情況,但是其缺點(diǎn)是無法自動(dòng)統(tǒng)計(jì),只能觀察微小區(qū)域的顆粒,結(jié)果較為片面;

 

采用熱重分析方法。比如硬脂酸包覆碳酸鈣,如果硬脂酸跟碳酸鈣只是普通的物理混合,那么熱重分析只有兩個(gè)峰,一旦硬脂酸跟碳酸鈣有作用,他的分解溫度就會(huì)發(fā)生變化,可能就會(huì)出現(xiàn)三個(gè)峰,一個(gè)碳酸鈣,一個(gè)硬脂酸,還有一個(gè)介于兩者之間,就是硬脂酸跟碳酸鈣結(jié)合的部分,這樣可以根據(jù)這部分分解溫度和含量來考察包覆,該方法結(jié)果較為準(zhǔn)確,但是實(shí)驗(yàn)周期長;

 

XPS 是另外一種分析材料表面的方法,信號(hào)來源厚度 <10nm,對(duì)于材料表面可以有非常靈敏的響應(yīng),可以顯示出材料表面的元素信息,并依據(jù)得到的譜圖上對(duì)應(yīng)峰面積進(jìn)行半定量分析。但是應(yīng)用于粉體包裹率計(jì)算,信號(hào)來源淺,誤差大,測試效率低。

 

高清的顆粒圖像,高效的處理速度,準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)結(jié)果,看似矛盾的工作,對(duì)于飛納電鏡來說就變得輕而易舉。那么,飛納電鏡是如何做到的呢?

 

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