2016 年 7 月 24 日 - 2016 年 7 月 28 日,在美國(guó)俄亥俄州哥倫布會(huì)議中心舉行了一年一度的美國(guó)電鏡年會(huì) M&M( MICROSCOPY & MICROANALYSIS)。飛納臺(tái)式掃描電鏡攜多款產(chǎn)品亮相美國(guó) M&M 2016,并現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行了樣品測(cè)試。
在這里,您不僅可以現(xiàn)場(chǎng)感受到飛納臺(tái)式掃描電鏡令人驚嘆的設(shè)計(jì),小小的桌面式儀器竟然可以取代傳統(tǒng)落地式掃描電鏡的功能。您也可以進(jìn)一步了解飛納臺(tái)式掃描電鏡采用的*的 CeB6 燈絲,亮度是鎢燈絲的 10 倍,為您呈現(xiàn)表面細(xì)節(jié)豐富的掃描電鏡圖像。CeB6 燈絲可以穩(wěn)定使用,壽命至少為 1500 小時(shí),甚至可以達(dá)到 2000 個(gè)小時(shí),燈絲使用時(shí)間記錄在飛納臺(tái)式掃描電鏡中,可以隨時(shí)查看。
飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 由 Karel van der Mast 教授帶領(lǐng)原飛利浦電鏡部門精英研發(fā),將能譜探頭*集成在電鏡主機(jī)內(nèi),開創(chuàng)了電鏡能譜設(shè)計(jì)新理念。
飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 不僅可以拓展能譜功能,還可以增加了二次電子探測(cè)器,拉伸臺(tái),壓力臺(tái),大角度傾斜臺(tái),高低溫樣品臺(tái)等。
飛納臺(tái)式掃描電鏡系列還有豐富的拓展功能,高倍超大視野圖像拼合,孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng),纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng),顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng),3D 粗糙度重建等。
飛納臺(tái)式掃描電鏡,帶給您不一樣的掃描電鏡體驗(yàn),,快速,強(qiáng)大。如果您想進(jìn)一步了解飛納,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)飛納中國(guó)。
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